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Substrato SiC

Pequena descrição:

Alta suavidade
2. Correspondência de alta rede (MCT)
3. Baixa densidade de deslocamento
4. Alta transmitância infravermelha


Detalhes do produto

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Descrição

O carboneto de silício (SiC) é um composto binário do Grupo IV-IV, é o único composto sólido estável do Grupo IV da Tabela Periódica. É um importante semicondutor.O SiC possui excelentes propriedades térmicas, mecânicas, químicas e elétricas, o que o torna um dos melhores materiais para a fabricação de dispositivos eletrônicos de alta temperatura, alta frequência e alta potência. O SiC também pode ser usado como material de substrato para diodos emissores de luz azul baseados em GaN.Atualmente, o 4H-SiC é o produto principal do mercado, e o tipo de condutividade é dividido em tipo semi-isolante e tipo N.

Propriedades

Item

2 polegadas 4H tipo N

Diâmetro

2 polegadas (50,8 mm)

Grossura

350+/-25um

Orientação

fora do eixo 4,0˚ em direção a <1120> ± 0,5˚

Orientação Plana Primária

<1-100> ± 5°

Plano Secundário
Orientação

90,0˚ CW do plano primário ± 5,0˚, Si voltado para cima

Comprimento plano primário

16±2,0

Comprimento plano secundário

8±2,0

Nota

Grau de produção (P)

Nota de pesquisa (R)

Nota fictícia (D)

Resistividade

0,015~0,028Ω·cm

< 0,1Ω·cm

< 0,1Ω·cm

Densidade do Microtubo

≤ 1 microtubos/ cm²

≤ 1 0microtubos/ cm²

≤ 30 microtubos/ cm²

Rigidez da superfície

Face Si CMP Ra <0,5 nm, Face C Ra <1 nm

N/A, área útil > 75%

TTV

< 8 hum

<10um

< 15 hum

Arco

<±8um

<±10um

<±15um

Urdidura

< 15 hum

< 20 hum

< 25 hum

Rachaduras

Nenhum

Comprimento cumulativo ≤ 3 mm
na borda

Comprimento cumulativo ≤10mm,
solteiro
comprimento ≤ 2mm

Arranhões

≤ 3 arranhões, cumulativos
comprimento <1* diâmetro

≤ 5 arranhões, cumulativos
comprimento <2* diâmetro

≤ 10 arranhões, cumulativos
comprimento <5* diâmetro

Placas hexagonais

máximo de 6 placas,
<100um

máximo de 12 placas,
<300um

N/A, área útil > 75%

Áreas politípicas

Nenhum

Área acumulada ≤ 5%

Área acumulada ≤ 10%

Contaminação

Nenhum

 


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